T1、E1、FXO FXS和数据通信测试

 

T1 E1快板是高密度双T1或E1板与较新的PCIe(X1)总线接口。这些卡与可移植的tProbe™单元相同，除了FXOFXS和Datacom功能之外。除了其他基本的T1/E1线路信号监测应用程序外，双T1 E1 Express(PCIe)板还支持增强的VF下降和插入功能，包括软件可选择的VFTX和Rx阻抗(135Ω、150Ω、600Ω、900Ω或高)、脉冲掩膜遵从性测试、抖动产生和测量应用程序。

 

      tScan 16™扩展的T1/E1平台家族，具有更大的密度，增加端口，降低功率。这些板连同一个突破盒提供16个高密度T1/E1端口和更新的PCIe(X1)总线接口。16个T1/E1端口是为高性能语音和数据捕获、监视和分析需求而优化的仅接收端口。

 

      这个便携式USB基T1 E1分析仪单元支持双T1或E1端口，并且高度便携，可由小型计算机(例如笔记本电脑、便携式计算机)，使它们在实地特别方便。

 

      基于usb的tProbe™T1 E1 VF及串行数据分析仪单位还支持双T1或E1端口，并增加了新的功能和功能，没有可用的“便携式”T1/E1基于USB的分析器。增强的功能和能力包括脉冲掩码和抖动的测量和分析，跨端口通过和传输模式，增强的VF下降和插入能力。计划今后扩大tProbe™包括FXORJ-11、FXSRJ-11和双DB 25连接器.这两种类型的分析器都具有远程访问、脚本控制等功能，它们都可以支持大量的可选应用程序。

 

      这个双通用HDT1 E1分析仪板可以插入5V或3.3V PCI总线。这些新一代的双T1或E1分析器板速度更快，体积更小，效率更高，并且可以同时处理数百个通道或时隙，同时存放在现代个人计算机中。当一个给定的位置需要多个分析器时，PCI板是更好的选择。

 

     mTOP™Rackmount和mTOP™Probe T1 E1测试平台。mTOP™rackmount是一个1U/2U机架，可以在其中堆叠多个USB T1 E1设备，以紧凑的尺寸提供更高的密度的形状因子解决方案。mTOP™探头是一种集多种功能于一身的独立测试仪器，其中T1 E1 USB pod与PC接口结合在一个单一的盒子中。综合mTOP™探针硬件单元的设计更易于携带和方便现场测试。

 

特征

 

适用于所有类型的平台——PCI和PCIe板、基于usb的便携式单元、与多个设备堆叠的mTOP™机架、mTOP™探针独立单元。

 

为T1、E1、VF和数据通信测试提供可扩展的测试解决方案;支持2、4或8个T1或E1端口、DTE和DCE接口、FXO和FXS接口。

 

能够监控功率、频率、信令、二进制字节值和直流偏移量

 

时间和光谱图形的意见，任何渠道或时间地段可以监测

 

内部音箱用于DS0监控，数据，四线vf接口，模拟数字信号的投放和插入，实时监控和所有报警和异常事件的时间戳日志

 

综合语音、数据、协议、模拟、数字分析/仿真

 

在一个平台上对成百上千个呼叫进行记录、生成和监控

 

tProbe™单元、双PCIe Express和通用T1/E1板支持脉冲掩模、抖动产生和测量

 

可调发射时钟频率，用于测试tProbe™和通用T1/E1设备的频率锁定灵敏度

 

精确延迟测量，无帧/帧，发送/接收音调和信号位在用户定义的频率和功率在一个(或所有)通道，和Tx/Rx环回应用程序提供侵入式测试

 

支持完整/分数T1/E1位错误率测试与详细的日志

 

传输高斯噪声，误差插入能力

 

T1 E1卡支持各种“基本应用程序”和“特殊应用程序”